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F1/N1探頭參數
]資料
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產品名稱:
F1/N1探頭參數
產品型號:
Ｆ１／Ｎ１
產品展商:
其他品牌
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簡單介紹
ＴＴ２６０覆層測厚儀F1/N1探頭參數,F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭,N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。
F1/N1探頭參數
的詳細介紹
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F1探頭
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F1探頭
F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。
F1/N1探頭參數 | F1 |
工作原理 | 磁感應 |
測量范圍（um） | 0-1250 |
低限分辨力(um) | 0.1 |
示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] |
兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+1] |
測量條件 | 小曲率半徑(mm) | 凸1.5 |
基體小面積的直徑(mm) | ф7 |
小臨界厚度(mm) | 0.5 |
探頭尺寸（mm) | ф12X47 |
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N1探頭
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N1探頭
N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。
F1/N1探頭參數 | N1 |
工作原理 | 電渦流 |
測量范圍（um） | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) |
低限分辨力(um) | 0.1 |
示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1.5] |
兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+1.5] |
測量條件 | 小曲率半徑(mm) | 3 |
基體小面積的直徑(mm) | ф5 |
小臨界厚度(mm) | 0.3 |
探頭尺寸（mm) | ф15X73 |
TT260選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更準確的測量結果和更高的重復性，另外在管材基體直徑較小或者被測區域接觸面積較小時，F400探頭也是佳的選擇。
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-400um
- 示值誤差：
- 一點校準：±[3%H+1]um
- 兩點校準：±[（1～3）%H+0.7]um
- 測量條件:
- 小曲率半徑：凸1mm
- 基體小面積的直徑：Ф3mm
- 小臨界厚度：0.2mm
- 探頭尺寸：Ф12X55mm
TT260選配F10探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。
涂層測厚儀F10探頭
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：10um
- 測量范圍：0-10000um
- 示值誤差：
- 一點校準：±[3%H+10]um
- 兩點校準：±[（1～3）%H+10]um
- 測量條件:
- 小曲率半徑：凸10mm
- 基體小面積的直徑：Ф40mm
- 小臨界厚度：2mm
- 探頭尺寸：Ф27X47mm
TT260選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。
涂層測厚儀CN02探頭
- 工作原理：電渦流 | 分辨力：1um
- 測量范圍：10-200um
- 示值誤差：
- 一點校準：±[3%H+1]um
- 兩點校準：—
- 測量條件:
- 小曲率半徑：平直
- 基體小面積的直徑：Ф7mm
- 小臨界厚度：無限制
- 探頭尺寸：Ф16X67mm
TT260選配F1/90探頭，主要用于管材內壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
涂層測厚儀F1|90探頭
- 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
- 測量范圍：0-1250um
- 示值誤差：
- 一點校準：±[3%H+1]um
- 兩點校準：±[（1～3）%H+1]um
- 測量條件:
- 小曲率半徑：平直
- 基體小面積的直徑：Ф7mm
- 小臨界厚度：0.5mm
- 探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm
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